ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪

简要描述：ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪，利用性能可靠的集成固态射频电源、稳固的恒温二维分光系统、科研级制冷防溢出CCD检测系统，结合国内领先的光谱校正技术，将ICP OES MICS的操作性、灵活性和可靠性发挥的超乎想象，日常操作和维护非常简单，更适合国内一线分析实验的操作要求，实现小型化（Miniatorization）、便捷化(Intelligentize）、智能化（ Convenience)的光谱仪（ Spec仕ometer ）。

产品型号：ICP-OES MICS系列
厂商性质：生产
更新时间：2024-07-16
访问量：182

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一、产品介绍

ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪，利用性能可靠的集成固态射频电源、稳固的恒温二维分光系统、科研级制冷防溢出CCD检测系统，结合国内领先的光谱校正技术，将ICP OES MICS的操作性、灵活性和可靠性发挥的超乎想象，日常操作和维护非常简单，更适合国内一线分析实验的操作要求，实现小型化（Miniatorization）、便捷化(Intelligentize）、智能化（ Convenience)的光谱仪（ Spec仕ometer ）。

ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪，可广泛应用于

环境保护、食品安全、地质矿产、冶金、高色金属、稀土、化工、｜｜伍床医药、石油制昂、半导体、农业研究等各个领域。用于测定不同物质中的常量、微量、瘦量元素含量，可用于样目中元素的定性、半定量及精确定量分析，检出限可达十亿分之一级。

二、性能指标

检测器：

高效半导体制冷的CCD固体检测器，在光谱仪波长范围内具有连续像素，能任意选择波长，且具有天然的防溢出功能设计。

检测单元：大于3,000,000个检测单元，读取速度≥2MHz。

像素分辨率：≤0.003nm。

检测器制冷系统：为获得最低的检测器暗电流，采用高效三级半导体制冷。

工作温度：≤-45℃，到达工作温度的时间：< 3 分钟。

光学系统：恒温驱气型中阶梯分光系统。

单色器：中阶梯光栅和棱镜二维色散系统，高能量，为保证仪器测试的稳定性，光栅和棱镜等内光路部件位置固定不动，在光谱仪全波长范围内一次曝光同时测定所有元素。

光室：带精密光室恒温38℃±0.1℃，可使用氩气或氮气进行光室吹扫，测定<200nm谱线时驱气量<3L/min。

波长范围：167-1000nm，全波长覆盖。

光学分辨率（FHW）：As189.042nm半峰宽<0.007nm，Ca393.366nm半峰宽<0.017nm，Ba614.172半峰宽<0.024nm, K766.490nm半峰宽<0.035nm为保证光学系统的稳定性和最佳的光通量，焦距为280mm。

等离子体：

等离子体观察方式：炬管垂直放置

RF发生器：固态发生器，等离子体线圈具有聚四氟乙烯保护层设计，防腐蚀，免维护。

频率：27.12MHZ。

RF功率≥1300W。

气路控制：配置3路高精度质量流量控制器，由ICP-OES软件直接控制，包括冷却气、辅助气、雾化气。精度0.01 L/min。

蠕动泵：5通道16滚轮蠕动泵。

分析性能：

分析速度：≥每分钟50个元素或谱线，而且每条测量谱线的积分时间≥10秒；

样品消耗量：<2ml，测定大于70个元素；

谱线灵活性：可对分析元素的任何一条谱线进行定性、半定量和定量分析，便于分析研究。

测定谱线的线性动态范围：≥106（以Mn257.6nm 来测定，相关系数≥0.9996），提供证明材料。

内标校正：同时的内标校正，即内标元素和测量元素必须同时曝光。

精密度：测定1ppm或10ppm多元素混合标准溶液，重复测定十次的RSD≤0.5%。

稳定性：测定1ppm或10ppm多元素混合标准溶液，不使用内标校正，连续测定4小时的长时间稳定性RSD＜1.0%。

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